三、可程式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī),微電腦高溫高濕試驗(yàn)箱滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):
☆GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:高溫試驗(yàn)方法
☆GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca恒定濕熱試驗(yàn)方法
☆GJB150.3-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)
☆GJB150.4-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)
☆GJB150.5-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 濕度試驗(yàn)
☆GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗(yàn)方法
☆GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗(yàn)方法
☆I(lǐng)EC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
☆I(lǐng)EC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
☆GB10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
☆GB10586-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
☆GB/T10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
☆GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
☆GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
☆GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
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